Metromeet 2015, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, se celebrará en Bilbao el 17 y 18 de marzo. En este evento, los visitantes recibirán información acerca de las últimas tecnologías, los progresos logrados en el sector, los nuevos desarrollos digitales y ópticos y las nuevas normas europeas e internacionales.
Programa
- Dos fantásticos keynotes sobre fabricación aditiva y gestión de nubes de puntos a gran escala: Tratarán temas de carácter muy innovador. El primero, a cargo de Jens Lübbehusen, se centrará en el control de calidad para fabricación aditiva de piezas del sector aeronáutico. El segundo, que impartirá Martin Kodde, abordará la gestión de nubes de puntos a gran escala, así como los retos a los que se enfrenta este sector.
- 16 presentaciones divididas en seis tracks temáticos: metrología industrial; nano y micrometrología; metrología óptica; soluciones metrológicas; software metrológico, y estándares, verificación y calibración. Representantes de las empresas y organismos más importantes del sector estarán al frente de estas presentaciones: Fraunhofer IPT, Universidad de Padua, STMicroelectronics, PTB, CEM, INTA, NPL, Asociación Innovalia, Renishaw, IK4-Tekniker y muchos más.
Networking
Los coffee breaks, almuerzos y la cena de Metromeet son perfectos para el networking. Los asistentes podrán ampliar su red profesional y establecer contactos directos con expertos en metrología industrial -para futuras colaboraciones en proyectos- que le aconsejarán sobre las últimas tendencias en medición y control de calidad.
