Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional organizada por la Asociación Innovalia, celebró su sexta edición los días 25 y 26 de febrero en Bilbao, donde reunió a ponentes de empresas y organismos como la Nasa, el Nist, Seat o Innovalia Metrology, que impartieron los dos tutoriales, tres keynotes y 20 presentaciones que compusieron la conferencia.
En Metromeet, se abordaron temas como el software metrológico, verificación y calibración, metrología industrial o micro y nanometrología, que cobró especial importancia con ponencias como la de John Villarrubia, experto del Nist en metrología dimensional a escala nanométrica; Óscar Lázaro, de Asociación Innovalia, que mostró las últimas novedades del proyecto NanoCMM; Ernst Treffers, especialista en la nueva generación de micropiezas, o Eberhard Manske, que explicó los pasos necesarios para llegar a la medición nanométrica en tres dimensiones.
Además, la conferencia contó con tres reconocidos ponentes para impartir los keynotes: Han Hajetma, de Mitutoyo, abordó los problemas a la hora de diseñar instrumentos de medida de textura de superficie; Maurizio Ercole hizo un análisis de las máquinas de medición por coordenadas después de casi 50 años de historia, y William Zhang, del Centro Goddard de Vuelo Espacial de la Nasa, expuso las últimas novedades y tendencias en el ámbito de la metrología aeronáutica.
Tutoriales y clausura
El programa de Metromeet lo completaron dos tutoriales: Antonio Ventura-Traveset, director general de Datapixel, explicó cómo las nuevas tecnologías nos ofrecen capacidades sin precedentes para capturar grandes cantidades de datos dimensionales en poco tiempo; por su parte, Erki Ikkonen, profesor de la Universidad de Helsinki (Finlandia), explicó los beneficios del uso de la medición con interferómetro y la importancia de utilizar luz blanca para obtener mejores resultados.
Durante el acto de clausura, se entregó el Premio a la Mejor Ponencia a Ramón Paricio, de Seat, por la calidad del contenido, muy visual y dinámico, de su presentación Precisión en la AutoEmoción, así como por su capacidad de comunicación. Ramón Paricio abordó el futuro de la medición en la industria del automóvil y señaló que aún queda un largo camino por recorrer.
