Metromeet 2020 se celebró del 3 al 5 de marzo en Bilbao, con ponencias donde importantes representantes de la industria pusieron en común desarrollos e ideas en metrología. Organizada por el Grupo Innovalia, la conferencia consiguió concentrar a los principales ejecutivos de empresas con gran proyección internacional, como Innovalia, Autodesk o General Electric, además de destacadas instituciones a nivel mundial como el PTB, la Universidad de Nottingham, la de Amberes, el CFAA, Tekniker, Aimen o el MSI.
Esta 16ª edición de Metromeet contó con contenido innovador de gran interés y permitió descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. La inauguración de la conferencia tuvo lugar en una de las principales salas del Palacio Euskalduna, donde Jesús de la Maza, presidente del Grupo Innovalia, compartió las directrices de Metromeet y los objetivos del encuentro.
Toni Ventura, CEO de Datapixel, abrió la conferencia con un tutorial carismático en el que describió el camino hacia la fabricación de cero defectos gracias a la metrología y acabó su intervención con una reflexión: “Hace años la metrología solo estaba presente en los laboratorios, pero a día de hoy se trata de un proceso imprescindible en producción, es una parte más del proceso, incluida dentro del mismo”.
La 16ª edición de Metromeet destacó también por nuevo contenido que generó mucho interés y expectación. Jennifer Herron, colaboradora del NIST, trajo desde Colorado (EEUU) una genial presentación acerca de los estándares de fabricación QIF.
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