Metromeet, la Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, celebró su 9ª edición los pasados días 7 y 8 de marzo en Bilbao. La organización ha mostrado su satisfacción con los resultados: “Se vieron unas presentaciones fantásticas y queremos agradecer a los ponentes su esfuerzo. Estamos muy contentos también con la interacción por parte de los asistentes; este año hemos notado un alto nivel de participación de la audiencia”, señala la organización. Más de 110 personas visitaron el Palacio Euskalduna de Bilbao para presenciar los dos tutoriales, tres keynotes y 18 presentaciones del programa. La 10ª edición de Metromeet se celebrará los días 27 y 28 de marzo de 2014 en el mismo escenario.
En la 9ª edición de esta conferencia, se pudieron establecer contactos profesionales con representantes de las empresas más importantes del sector y conocer las mejores técnicas para ahorrar tiempo y costes en los procesos de medición.
Metromeet invitó a expertos e investigadores de la metrología industrial dimensional a compartir sus conocimientos y experiencias. Como referente internacional consolidado en el ámbito de la metrología industrial dimensional, presentó los últimos avances en la materia y planteó mejoras en la calidad de los productos y la eficacia de su producción.
La conferencia reunió a profesionales de nueve países diferentes. Además, se habilitó, en el hall de exposiciones, una zona de expositores donde empresas como Trimek, Datapixel, Unimetrik y la Asociación Innovalia expusieron a los asistentes sus últimos desarrollos tecnológicos y sus herramientas más avanzadas.
Temas tratados
Durante Metromeet, se expusieron los avances sobre las últimas tecnologías, los progresos logrados en el sector y se constituyó un foro para debatir sobre metrología y su desarrollo en una industria que cambia a gran velocidad. Entre otros temas de interés, se plantearon nuevos desarrollos digitales y ópticos, nano y micrometrología, los nuevos métodos de trabajo y métodos que mejoren los procesos industriales y de productividad. Más en concreto, se trataron los siguientes temas: acreditación y certificación; avances en micro y nanometrología; futuras tendencias en I+D metrológico; deporte y metrología; últimos desarrollos y soluciones en el área de la medición óptica sin contacto y los sistemas de digitalización 3D; problemas de medición en piezas de gran tamaño y posibles soluciones; métodos, organización y mejores prácticas en el área de la metrología industrial; metrología y economía; nuevos desarrollos en instrumentos de medición; nuevos desarrollos en metrología virtual; visión general de los requisitos en los procesos industriales de calidad y procesos de mejora basados en metrología; últimos desarrollos en el área de software metrológico; soluciones para la inspección in-line; situación actual y retos de la metrología coordinada multisensor; incertidumbre, trazabilidad y fiabilidad en la medición con CMM, y educación académica en metrología.
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