AIMPLAS, Instituto Tecnológico del Plástico, ha organizado para el próximo 29 de septiembre la jornada online Microscopía Aplicada a Materiales Plásticos, en la que expertos en esta técnicas ofrecerán una visión sobre las diferentes aplicaciones en el área de caracterización de materiales plásticos.
Abel Sainz, de ZEISS, será el encargado de abordar la técnica de Microscopía Correlativa para el estudio de los polímeros y posteriormente Pilar Martínez, de AIMPLAS, profundizará en las posibilidades de la Microscopía Electrónica (SEM y TEM). Por su parte, Jorge Puente, de PERKIN ELMER, hablará de los nuevos retos en Microscopía IR para la determinación de films multicapa y microplásticos, y Francisco Núñez, de OLYMPUS IBERIA tratará los beneficios de la microscopía digital en la evaluación de la calidad en diferentes procesos de fabricación de materiales plásticos, mientras que César Gadea, de AIMPLAS, abordará de forma práctica la resolución de problemas mediante técnicas diversas de microscopía. Finalmente, Sandrine Grenet, de MTB, cerrará las ponencias hablando de Microscopía RAMAN.
